Bin-Size vs. Jitter – Ihre Application-Note
Die Abweichung zwischen aufeinanderfolgenden Taktperioden – bezeichnet als Zyklus-zu-Zyklus-Jitter – ist eine wichtige Quelle für Messunsicherheiten bei Zeitbereichsmessungen. Bei Einzelmessungen trägt der Timing-Jitter direkt zur Gesamtunsicherheit bei und kann, je nach seiner Größe im Verhältnis zur TDC-Bin-Größe, das Messergebnis dominieren.
Eine gängige Annahme ist, dass dieser Jitter zu einer FWHM-Timing-Verteilung von etwa zwei Bins führt. Wenn Sie unsere TDCs jedoch mit einem einfachen Kabelverzögerungstest bewerten, kann das Ergebnis unerwartet ausfallen. Diese Messungen zeigen, dass bei unseren Geräten der Timing-Jitter eben nicht der begrenzende Faktor für die Messgenauigkeit ist.
Unsere High-End-TDCs, wie beispielsweise der xHPTDC8 und xTDC4, werden mit speziellen ASICs implementiert, die eine hochgradig kontrollierte und einheitliche Bin-Größe bieten. Folglich sind die verbleibenden Jitter-Beiträge deutlich kleiner als der intrinsische Quantisierungsfehler des TDC. Bei kurzen Zeitintervallen wird die Messunsicherheit daher überwiegend durch die Bin-Größe bestimmt.
In unserer Application Note “Jitter vs. Bin Size”, vergleichen wir die Ergebnisse von Kabelverzögerungstests, die mit idealen TDC-Modellen, typischen handelsüblichen Instrumenten und unseren eigenen Geräten erzielt wurden.
In dieser Animation wird eine ideale TDC-Messung mit einer Messung verglichen, die einen erheblichen Timing-Jitteraufweist. Vergleichen Sie die resultierenden Histogramme mit denen, die mit unseren Geräten ermittelt wurden (siehe Application Note).
