Zyklus-zu-Zyklus-Jitter

Der Zyklus-zu-Zyklus-Jitter ist ein Maß für die Abweichung zwischen zwei aufeinanderfolgenden Taktperioden und wird folglich als Differenz zwischen den Perioden zufälliger benachbarter Zyklen berechnet.

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Bei vielen TDC-Produkten auf dem Markt ist diese Ungenauigkeit eine Hauptursache für Messfehler. Bei cronologic-Produkten ist der Zyklus-zu-Zyklus-Jitter jedoch deutlich geringer als die Bin-Size.

Unsere High-End-TDCs, wie beispielsweise xHPTDC8 und xTDC4, werden mit speziellen ASICs realisiert, die eine kontrollierte und hochgradig einheitliche Bin-Größe gewährleisten. Folglich sind die Restjitterbeiträge wesentlich geringer als der inhärente Quantisierungsfehler. Bei kurzen Zeitintervallen wird die Messunsicherheit daher vorwiegend durch die Bin-Größe bestimmt. Unter diesen Bedingungen nähert sich der maximale Fehler etwa einem halben Bin, der quadratische Mittelwert (RMS) beträgt etwa 0,8 Bins und die Halbwertsbreite (FWHM) entspricht etwa 2 Bins.

Andererseits gibt es TDCs auf dem Markt, die im Gegensatz zu chronologic TDCs auf einem FPGA-implementierten Carry-Chain-Design basieren und daher einen höheren Jitter aufweisen, der deutlich über der digitalen Auflösung liegt. In diesem Fall ist der Zeitjitter der begrenzende Faktor für die nutzbare Auflösung des TDC.

Beim Vergleich von Jitter-Spezifikationen ist grundsätzlich Vorsicht geboten, da verschiedene Eigenschaften der Taktzyklusverteilung angegeben werden können. Gängige Spezifikationen sind das 1-Sigma-Intervall oder das 95 %-Intervall der Verteilung.